在微观世界的研究中,精准的观测工具是不可或缺的。日立S-3400N型扫描电子显微镜(SEM)以其卓越的性能和先进的技术,为科研和工业领域提供了一个强大的分析平台。深圳市世纪远景电子设备有限公司现提供该设备的租赁服务,让更多用户能够利用这一高科技工具进行材料的微观形貌、组织和成分的有效分析。
1、日立S-3400N型SEM的核心优势
日立S-3400N型SEM采用了TMP分子泵真空系统,这一系统不仅节省了占地面积,还降低了电源功耗,使得设备更加高效和环保。该设备的新研制电子光学系统和自动化功能显示系统,提供了全屏无闪烁的高像素实时图像显示,大大提升了用户的观测体验和操作便利性。
2、技术创新与自动化
S-3400N型SEM的自动功能极为强大,包括自动灯丝饱和、4偏压、自动枪对中、自动束流设定、自动合轴自动聚焦和消像散、自动亮度对比度等,这些自动化功能不仅提高了操作的精确度,也使得用户能够更专注于实验本身而非设备操作。
3、高分辨率成像
该设备在3kV低加速电压时保证有10nm的分辨率,而在30kV高真空模式下,其SE分辨率可达到3.0nm,BSE分辨率在30kV低真空模式下为4.0nm。这样的高分辨率成像能力,使得S-3400N型SEM在观测微观结构时能够提供极其清晰和细致的图像。
4、样品观测与分析
S-3400N型SEM的样品台设计灵活,II型样品台具有五轴马达驱动,倾斜角度可达-20度~+90度,样品最高可达80mm。这一设计使得对大尺寸样品的观测更为简单和便利。同时,分析样品仓可以同时安装EDX、WDX及EBSD,为用户提供了更多的分析手段。
5、技术指标概览
SE分辨率:3.0nm (30kV),高真空模式 / 10nm (3kV), 高真空模式
BSE分辨率:4.0nm (30kV),低真空模式
加速电压:0.3 ~ 30 kV
低真空范围:6 ~ 270 Pa
最大样品尺寸:直径200mm
最大样品高度:35mm (WD=10mm) for I型,80mm (WD=10mm) for II型
驱动类型:手动 for I型 / 五轴马达驱动 for II型
检测器:二次电子检测器、高灵敏度半导体背散射电子检测器
6、租赁服务流程
需求评估:与我们的技术专家沟通,明确您的研究需求和预算。
设备配置:根据您的需求,选择适合的SEM配置,包括样品台类型和附加的分析工具。
租赁协议:签订租赁协议,明确租赁期限、费用和双方的责任。
设备交付与安装:我们将负责设备的运输、安装和调试,确保设备到达后即可投入使用。
用户培训:提供全面的用户培训,确保您的团队能够熟练操作设备。
技术支持:在租赁期间提供持续的技术支持,确保设备的稳定运行。
设备维护:定期对设备进行维护和校准,以保持其最佳性能。
7、结语
日立S-3400N型扫描电子显微镜的租赁服务,为需要进行微观分析的研究机构和企业提供了一个高效、经济的解决方案。通过我们的租赁服务,用户可以享受到最先进的SEM技术,同时获得专业的技术支持和维护服务。